Каталог предложений

В Университете (Россия) разработан и запатентован импульсный терагерцовый спектрометр с повышенной мощностью терагерцового излучения, которое позволяет генерировать терагерцовое излучение в широком диапазоне длин волн от 750 до 1600 нм и расширяет спектральный диапазон в высокочастотную область спектра. Университет ищет партнеров для заключения лицензионных соглашений и других форм сотрудничества.

Способ определения профиля распределения концентрации основных носителей заряда по глубине в полупроводниковых гетероструктурах, при котором на образце полупроводниковой гетероструктуры измеряют емкость, отличается тем, что дополнительно осуществляют травление для каждого функционального слоя структуры, измеряют зависимость емкости от напряжения в нестационарном режиме и зависимость тангенса угла диэлектрических потерь от напряжения, определяют «окно профилирования» на заданной глубине, далее осуществляют пересчёт нестационарной вольт-фарадной характеристики (ВФХ) в локальный профиль распределения концентрации основных носителей заряда по глубине гетероструктуры путем дифференциро...